隨著半導體技術的迅猛發(fā)展,硅晶體管技術在亞10 nm節(jié)點的應用面臨著越來越多的挑戰(zhàn),特別是接近其基本物理極限。在這種背景下,進一步縮小場效應晶體管(FETs)的尺寸迫切需要新的通道材料。二維(2D)半導體因其獨特的原子級厚度和高載流子遷移率而引起了科學家的廣泛關注。這些特性使得2D半導體有望在短通道FETs中實現(xiàn)更好的靜電控制和優(yōu)異的開啟態(tài)性能。
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實驗展示了平均接觸電阻為69 Ω μm,總電阻為235 Ω μm的MoS2晶體管。 -
這些器件在0.7 V漏電壓下顯示出1.22 mA μm–1的電流密度,跨導為3.2 mS μm–1。 -
實驗還表明,這種釔摻雜的金屬MoS2與金屬電極和半導體MoS2之間形成了范德華界面,避免了晶格退化,并且沒有引入額外的費米能級釘扎。 -
與傳統(tǒng)金屬物理氣相沉積方法相比,該方法在提升二維半導體晶體管的開啟態(tài)性能方面表現(xiàn)出了顯著優(yōu)勢。
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