近期,研究團(tuán)隊成功的制備單層以及多層HfTe2薄膜,角分辨光電子能譜測量發(fā)現(xiàn)當(dāng)厚度小于3層時存在金屬-絕緣體相變,價帶頂在低溫下形成了平帶并且費米面附近打開能隙,同時在點附近出現(xiàn)了折疊帶,這是形成CDW的典型特征。而聲子的計算表明單層HfTe2沒有結(jié)構(gòu)失穩(wěn),通過Raman、X射線衍射測量均沒有觀察到明顯的晶格畸變,這一發(fā)現(xiàn)為單層HfTe2中的金屬-絕緣體相變?yōu)殡娮有云鹪刺峁┝藦娪辛Φ淖C據(jù)。
https://www.nature.com/articles/s41567-023-02349-0
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