盡管失配位錯(cuò)無處不在,但由于其埋藏性,直接探究失配位錯(cuò)的動(dòng)態(tài)作用是無法實(shí)現(xiàn)的。
在此,來自美國紐約州立大學(xué)賓漢頓分校的Guangwen Zhou等研究者以銅氧化物到銅的界面轉(zhuǎn)變為例,證明了失配位錯(cuò)以一種間歇性的方式調(diào)節(jié)氧化物到金屬的界面轉(zhuǎn)變,通過這種方法,界面臺(tái)階的橫向流動(dòng)被固定在失配位錯(cuò)的核心位置,直到錯(cuò)位爬到新的氧化物/金屬界面位置。相關(guān)論文以題為“Dislocation-induced stop-and-go kinetics of interfacial transformations”于2022年07月27日發(fā)表在Nature上。
對(duì)失配位錯(cuò)及其與相變的動(dòng)態(tài)耦合的基本認(rèn)識(shí),一直是一個(gè)長期的研究課題。透射電子顯微鏡(TEM),在闡明靜態(tài)位錯(cuò)的位置和構(gòu)型方面,顯示了它的通用性和原子尺度的精度。人們已經(jīng)普遍在用透射電鏡觀察變形過程中位錯(cuò)的運(yùn)動(dòng)。然而,直接探究相變過程中失配位錯(cuò)的動(dòng)態(tài)作用具有挑戰(zhàn)性,因?yàn)樗粌H需要原子捕獲界面的快速演化,而且需要應(yīng)用刺激來驅(qū)動(dòng)界面轉(zhuǎn)換。
在這里,研究者報(bào)告了在界面轉(zhuǎn)換過程中失配位錯(cuò)的動(dòng)態(tài)作用的直接可視化。這是通過原位環(huán)境TEM在樣品區(qū)流動(dòng)氫氣(H2)氣體來激活銅氧化物(Cu2O)/銅(Cu)界面反應(yīng),同時(shí)通過高分辨率TEM (HRTEM)成像來分辨Cu2O→Cu的界面轉(zhuǎn)變。研究者的原位TEM實(shí)驗(yàn),包括通過在氧氣(O2)中氧化Cu形成Cu2O/Cu界面,然后切換到H2,這導(dǎo)致Cu2O在Cu2O/Cu界面還原為Cu。
圖1a顯示了在分壓氧氣(pO2) = 0.67 Pa,溫度T = 623 K下形成的Cu2O(110)/Cu(110)界面的典型HRTEM圖像。圖1a中,Cu2O/Cu界面位置由綠色虛線標(biāo)出,并識(shí)別出4個(gè)失配位錯(cuò),顯示了7×6和8×7重合點(diǎn)陣(CSL)構(gòu)型,其中Cu2O中的6(或7)個(gè)Cu間距與Cu襯底中的7(或8)個(gè)Cu間距相匹配。Cu和Cu2O之間較大的天然晶格失配(約14.5%),在能量上不利于共格界面的形成,從而導(dǎo)致一系列位錯(cuò)釋放失配應(yīng)變。
HRTEM圖像的幾何相位分析(GPA)證實(shí)了這一點(diǎn),該圖像顯示了位錯(cuò)核心周圍集中的應(yīng)變(圖1b)。從后來的原位TEM觀測結(jié)果可以看出,8×7(和6×5)段在Cu2O→Cu界面轉(zhuǎn)變過程中瞬間出現(xiàn),并轉(zhuǎn)變?yōu)楦€(wěn)定的7×6 CSL。
研究表明,結(jié)合原子計(jì)算,研究者確定釘扎效應(yīng)與金屬原子填補(bǔ)位錯(cuò)核心空位的非局域輸運(yùn)有關(guān)。這些結(jié)果,為固體-固體界面轉(zhuǎn)變提供了機(jī)理上的見解,并對(duì)利用埋藏界面上的結(jié)構(gòu)缺陷來調(diào)節(jié)質(zhì)量傳輸和轉(zhuǎn)化動(dòng)力學(xué)具有重大意義。
圖1. Cu2O/Cu界面失配位錯(cuò)的形成
圖2. 在623 K和5.3 Pa H2氣體下Cu2O→Cu界面轉(zhuǎn)變的停-走邊緣流的原位TEM可視化
如圖2b, c中藍(lán)色和紅色箭頭所示,Cu2O→Cu的轉(zhuǎn)變是通過原子臺(tái)階沿Cu2O/Cu界面的橫向流動(dòng)發(fā)生的。外延Cu2O/Cu界面通過臺(tái)階-流動(dòng)轉(zhuǎn)變保持不變。然而,在原位TEM觀測中,Cu2O→Cu轉(zhuǎn)變呈現(xiàn)出明顯的“走走停停(?stop-and-go)”的特征,這使得Cu2O/Cu界面臺(tái)階的橫向傳播有規(guī)律地中斷,并出現(xiàn)2~6 s的短停頓,如圖2e所示,圖2b,c中臺(tái)階1和2橫向傳播的距離-時(shí)間圖(圖2e)。同時(shí),從圖2d中氧化物表面的時(shí)間演變可以看出,Cu2O表面發(fā)生了輕微的衰變。
圖3. 623 K和5.3 Pa H2氣體流動(dòng)時(shí)Cu2O→Cu界面轉(zhuǎn)變過程中失配位錯(cuò)調(diào)控的間歇邊緣流原位原子尺度觀察
圖4. Cu2O→Cu界面相變的DFT模擬
綜上所述,鑒于在固體-固體轉(zhuǎn)化過程中無處不在的臺(tái)階機(jī)制,失配位錯(cuò)在調(diào)節(jié)固體反應(yīng)動(dòng)力學(xué)中的重要作用,可能直接適用于結(jié)垢反應(yīng)(即氧化、氮化、硫化和硅化),沉淀反應(yīng)、固相置換反應(yīng)和互擴(kuò)散形成層,其中控制界面轉(zhuǎn)變的基本過程原型表現(xiàn)出相似性,包括界面臺(tái)階、失配位錯(cuò)和空位輔助擴(kuò)散。
Sun, X., Wu, D., Zou, L.?et al.?Dislocation-induced stop-and-go kinetics of interfacial transformations.?Nature?607,?708–713 (2022). https://doi.org/10.1038/s41586-022-04880-1
原文鏈接:
https://www.nature.com/articles/s41586-022-04880-1
https://www.binghamton.edu/mechanical-engineering/people/profile.html?id=gzhou
http://ws.binghamton.edu/me/Zhou/index.html
原創(chuàng)文章,作者:Gloria,如若轉(zhuǎn)載,請(qǐng)注明來源華算科技,注明出處:http://m.xiubac.cn/index.php/2023/11/18/619ac28d19/