X射線光電子能譜（XPS）是最常用的表面分析技術(shù)，在提高研究論證的嚴(yán)密性、加深理論分析深度、提高論文檔次方面，往往能起到畫龍點(diǎn)睛的作用。

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【講真】XPS譜的譜峰擬合是門藝術(shù)科學(xué)

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【軟件】PeakFit軟件及入門教程

【軟件】XPS分析軟件Casaxps

【軟件】XPS分峰軟件XPSpeak4.1

【軟件】XPS分析軟件Augerscan 3.3

【書籍】《元素特征峰位置XPS》

【書籍】《化學(xué)鍵能數(shù)據(jù)手冊》

【書籍】X-ray photoelectron spectroscopy

【書籍】An introduction to surface analysis by XPS and AES

【書籍】Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science_ A User-Oriented Guide?

【書籍】Handbook of X Ray Photoelectron Spectroscopy_ A Reference Book of Standard Spectra for Identification and Interpretation of XPS Data

【書籍】Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES)

【書籍】X-ray Photoelectron Spectroscopy An Introduction To Principles And Practices

【書籍】High Resolution XPS of Organic Polymers—The Scienta ESCA300 Database

【書籍】Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS

【標(biāo)準(zhǔn)】GBT 30704-2014 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜分析指南

【標(biāo)準(zhǔn)】SJT 10458-1993 俄歇電子能譜術(shù)和X射線光電子能譜術(shù)的樣品處理標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)則

【標(biāo)準(zhǔn)】GB∕T 31470-2015 俄歇電子能譜與X射線光電子能譜測試中確定檢測信號對應(yīng)樣品區(qū)域的通則

【標(biāo)準(zhǔn)】GB∕T 33502-2017 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜（XPS）數(shù)據(jù)記錄與報告的規(guī)范要求

【標(biāo)準(zhǔn)】GB∕T 36401-2018 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜薄膜分析結(jié)果的報告

【標(biāo)準(zhǔn)】GBT 22571-2008 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)

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【標(biāo)準(zhǔn)】GBT 25185-2010 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜荷電控制和荷電校正方法的報告

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【標(biāo)準(zhǔn)】GBT 28633-2012 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性

【標(biāo)準(zhǔn)】GBT 29556-2013 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定

【標(biāo)準(zhǔn)】GBT 30702-2014 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜實(shí)驗(yàn)測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南

【標(biāo)準(zhǔn)】GBZ 32490-2016 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜確定本底的程序

【標(biāo)準(zhǔn)】SJT 10714-1996 檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標(biāo)準(zhǔn)方法

【標(biāo)準(zhǔn)】YST 644-2007鉑釕合金薄膜測定方法X射線光電子能譜法 測定合金態(tài)鉑及合金態(tài)釕含量